多角度透/反射測試設備
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本設備運用先進的光學原理進行高精度檢測。光源通過光纖傳輸，經過物鏡匯聚于樣品上實現高效的透/反射過程，透/反射光被積分球接收，光譜儀迅速捕捉光信號。 設備內置精密算法，不僅能夠快速、準確地計算出 T% & R%，還能同步完成色坐標與涂層厚度的精確測量， 為材料光學特性分析、涂層質量管控等多領域應用提供一站式精準數據支持。
T40 & R40 測試工站
（添加偏振片）機制
T0 測試工站
R10 測試工站
（余弦探頭替換積分球）機制
- 獨特的反射率/透射率校準算法
- 提供了不同孔徑光斑測量(最小1mm)
- 寬光譜覆蓋，適配多種材料測試
- 內置環境傳感器，確保測試條件的一致性
- 非接觸無損光學檢測，保護樣本
- 高精度步進電機，微米級調整精度
- 采集快，重復性高，高速獲取數據
- 集T%/R%/顏色/涂層厚度等多樣化測試功能
- 緊湊抗振設計，復雜環境穩定運行
- 模塊化集成，便捷維護、升級拓展
- 支持多格式數據導出，便于報告生成與分析
- 智能自評結果，自動對齊測試位，可視化界面簡單易用
- 1. 精準檢測平面光學材料，涵蓋蓋板玻璃、晶圓、玻璃窗、濾光片等的 T% & R% 檢驗。
- 2. 適合光學鍍膜的厚度測量，對硬質涂層、AR 涂層等多種類型均可精準測定。
- 3. 實現多角度 T%/R% 測試，包含 0°、40°、45°、65°（選配）入射角的 T% 測試，以及 8°（選配）、10°、40°、45° 入射角的 R% 測試。
說明：
在檢測光學涂層厚度時，運用已建立的顏色坐標和膜厚之間的模型和算法來實現高精度測量。為滿足測試需求，測試模塊的結構需相應調整。
在原有反射測量結構基礎上，為了過濾玻璃反射光（如測試膜層厚度光路示意圖光線 2），需將接收端改為物鏡加余弦探頭來接收反射光。
測試膜層厚度光路示意圖
機臺測試涂層厚度機制圖
